光缆施工的现场测试很重要，它是为连接光端机总调测做准备。光缆内光纤的测试项目有传输衰减的测量，对多模光纤，当需要时测试基带响应。
单盘光缆测试的目的在于工厂产品的质量；施工布放后的测试是为检查布放过程有无损伤，并作为接续前的检查；接续中的测试是为了检查接头是否达到低损耗；接续后组成单元光缆段的测试，目的在于检查是否达到设计对传输总衰减和总基带响应要求，作为连接光端机总调测的准备。
单模光纤是以色散系数来表征色散的。单模光纤的色散系数本来很低，对于140Mbit/s系统的限额为300ps/nm，因此当中继段长小于50km时，该限额有很大余量，施工过程可以不必测量；565Mbit/s五次群的限额为120ps/nm，因此有必要在设计中考虑，施工后进行验证测量。
1、现场传输衰减的测量
1.1 光纤的衰减
光信号沿光纤传输时，光功率的损失即为光纤的衰减，衰减A以分贝（dB）为单位，
A=10lgP1/P2（dB）
P1和P2分别是注入端和输出端的光功率。
1.2 光缆间增加注入系统
为了测量得到精确的结果，必须保证功率分配是稳态模，因此在光源与被测光缆间增加注入系统。注入系统由扰模器、滤模器和包层模剥除器组成的一种模拟装置；对多模光纤可以用1km以上，以一定曲率半径圈绕的光纤。
1.3 3种测试方法比较
CCITT建议G.651推荐了3种测试方法。即剪断法、和后向散射法。剪断法精度高但有破坏性；介入损耗法是非破坏性，精度不如剪断法；而后向散射法，即用光时域反射仪（OTDR）测量，功能全、精度高和无破坏性，测量数据可直接打印出来。
1.4 用光时域反射仪（OTDR）测量的优点
用光时域反射仪（OTDR）测试只需在光纤的一端进行，如图1、2所示，用这种仪表不仅可以测量光纤的衰减系数，还能提供沿光纤长度衰减特性的详细情况，检测光纤的物理缺陷或断裂点的位置，测定接头的衰减和位置，以及被测光纤的长度，这种仪器带有打印机，可以把测绘的曲线打印出来。
现场光纤接续由OTDR监视进行，熔接机在熔接完一根芯后都会给出熔接点的估算衰耗值，其估算一般都是本地纤芯直观监测，即通过观察纤芯对接的好坏来估算衰耗值。接续工作是否完好，由监视者测量后通知接续工作者。这种方法的优点：一是OTDR固定不动。省略了仪表转移所需的车辆和人力物力；二是测试点选在有市电而不需配发电机的地方；三是测试点固定，减少了光缆开剥。
1.5 OTDR测量参数的选择
（1）选择适当量程：OTDR有不同的量程，操作者应结合测试的光缆长度选择比较恰当的量程，使测试曲线尽量显示在屏幕中间，这样读数才能准确，误差才会小。
（2）选择适当脉冲宽度：OTDR可以选择注入被测光纤的光脉冲宽度参数，在幅度相同的情况下，宽脉冲的能量要大于窄脉冲的能量，能够测试较长距离，但误差较大。因此，操作者应该结合待测光纤的长度选择适当的脉冲宽度，使其在保证精度的前提下，能够测试尽可能长的距离。
（3）选择适当的折射率：由于不同厂家光纤选用的材质不同，造成光在光纤中传输速度不同，即不同的光纤有不同的折射率，因此在测试时应选择适当的折射率，这样在测量光纤长度时才能准确。
（4）测试点位选择应合理：目前，大部份OTDR测试接头损耗均采用5点法，在测试时，光标作为一点应定位在接头点上，其余4点应分别对应接头点两侧的光纤特性。这样接头测试才能准确。
1.6 光缆接头单向测试法
此种方法就是在接续方向的始端放置一台OTDR，对所有接头点进行单向测试。
当中继段长度较短，光缆接头不多，如市话中继光缆，对接头衰减要求不很精确时，可以用光时域反射仪从一端监视，指挥接续者调整接续器达到相对最佳值即可正式接续，从图2观察到图内（c）点的波形出现小的“台阶”，衰减的大小可以由“台阶”的大小估计。
这种方法精度不如比较法，但简便，只要一点监视两点配合，适宜于中继段衰减余量较大的光缆段施工，可增快进度。
1.7 光缆接头双向环测法
此种方法就是在接续方向的始端将两根光纤分别短接，组成回路，OTDR在接续开始点的前一点对所有接头点进行双向测试。由于增加了环回点，所以能在OTDR上测出接续衰耗的双向值，这种方法的优点是能准确评估接头的好坏。
由于测试原理和光纤结构上的原因，用OTDR单向监测会出现虚假增益的现象，相应地也会出现虚假大衰耗的现象，对于一个接头来说，用两个方向衰减值的数学平均数才能准确反映其真实的衰耗值。光纤衰减常数的标准为：在1310mm波长上，衰减平均值应小于等于0.36dB/km，衰减最大值应小于等于0.4dB/km；在1550mm波长上，衰减平均值应小于等于0.22dB/km，衰减最大值应小于等于0.25dB/km；光纤接续时，其双向平均接头损耗不得大于0.08dB。
竣工后用光源和光功率计对全程进行双向测试，其衰耗值必须符合设计要求。并用OTDR双向进行检查后向散射曲线是否符合要求。
2、现场光纤的基带响应测试
多模光纤是以基带响应间接地表征光纤的色散。单盘光缆内光纤的基带响应测试可使用频域法或时域法。现将频域法介绍如下。